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xray檢測(cè)
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IC芯片缺陷檢測(cè)使用X-RAY無(wú)損檢測(cè)設(shè)備效果清晰可辨
發(fā)布時(shí)間:2020-05-09 09:00:00

IC芯片,中文可理解為集成電路,是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容量、晶振二極管等等)形成的集成電路放在一塊基板上,做成一塊芯片。IC芯片比較常見(jiàn)的便是我們常用的數(shù)碼電子產(chǎn)品中,如電視、電腦、手機(jī)中的芯片都可以叫做IC芯片。

 

芯片是智能設(shè)備的核心,就如同汽車(chē)的發(fā)動(dòng)機(jī)一樣,對(duì)整個(gè)產(chǎn)品起著關(guān)鍵性的作用。因此,IC芯片的質(zhì)量對(duì)整個(gè)電子產(chǎn)品的作用非常大,它影響著整個(gè)產(chǎn)品上市后的質(zhì)量問(wèn)題。一般企業(yè)為了確保IC芯片是否存在質(zhì)量問(wèn)題,通常會(huì)對(duì)IC芯片進(jìn)行檢測(cè),市場(chǎng)上多采用X-RAY檢測(cè)設(shè)備來(lái)進(jìn)行質(zhì)量鑒定。

 

但集成電路是一種比較精密的電子元器件,將所需要用到的電子元器件(晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件)封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為電路所需的功能性微型結(jié)構(gòu)體,結(jié)構(gòu)越精密,檢測(cè)難度越大。

 

  IC芯片X-RAY檢測(cè)設(shè)備是專(zhuān)門(mén)為IC芯片做透視檢測(cè)其內(nèi)部缺陷的一款無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,它是IC芯片缺陷檢測(cè)效果最*的方式之一。

 

X-RAY檢測(cè)設(shè)備主要依靠?jī)?nèi)部X光管發(fā)射X射線(xiàn)照射IC芯片成像,X射線(xiàn)穿透物體后,數(shù)字平板器接收?qǐng)D像信號(hào),進(jìn)而傳輸至電腦,軟件處理后,在屏幕上實(shí)時(shí)成像。


 

       X-RAY檢測(cè)對(duì)IC芯片是屬于無(wú)損檢測(cè)范疇,檢測(cè)完的樣品可以再次投入使用,這樣有效地節(jié)約了解生產(chǎn)檢驗(yàn)成本。



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